德国蔡司 i.Profiler自动验光仪

高分辨率 Hartmann-Shack 波前像差传感器。于 7 毫米瞳孔孔径范围内的 1,500 个点进行波前像差采样

可调下颌托架提供更*的测量姿势

测量过程完全自动化

崭新登场：通过蔡司 i.Com mobile 进行遥控蔡司 i.Profiler? plus，并将顾客的 i.Scription? 分析展示在 iPad 上。

使用蔡司 i.Scription? 技术****夜间视觉

功能架构清楚易懂，****于数据的取得、评估、呈现和分析

搭载触摸屏控制面板，实现 60 秒快速完成所有双眼测量

i.Profiler plus 的测量数据可保存到 i.Com 数据管理系统中，可以用于将来的咨询、订购和归档，无需进一步测量。还可以和一般 PMS 系统对接，保证流程顺畅。i.Com 和 i.Profiler? plus 可结合成为一个解决方案包。

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技术参数:

技术数据，波前技术 

测量范围	球面：–20 D 至 +20 D
轴向	0° – 180°
测量表面	2.0 mm 至 7.0 mm（3 区）
测量点数量	达 1500
方法	Hartmann-Shack
参考波长	1 555 nm (ISO 24157)

技术数据，*地形图 

环圈数量	22（18 个完整环圈）
测量点数量	3425
测于 42.125 D *表面	直径 0.75 mm 至 9.4 mm
屈光	测量范围 25 至 65 D
****度	± 0.05 D (± 0.01 mm)
可重复性	± 0.10 D (± 0.02 mm)
类型 A	符合 19980 标准

国械注进20162161377

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